表面光洁度
▶ 划痕：道子、亮路。
▶ 麻点：斑点、坑点、点子，反射镜中针孔，镀膜元件中溅点。
▶ 长宽比大于4:1的为划痕，小于4:1的为麻点。
▶ 等效直径： D=2xsqrt(S/pi) S是面积。
▶ 美军标《MIL-O-13830》 xx/xx 前为划痕，后为麻点；划痕标准样板10#、 20#、 40#、 60#和80# 5个级，麻点以1/100mm作为计量单位-直径。

检验方法
检验时应以黑色屏幕为背景，光源为60W～100W（电压为36V）的普通白炽灯泡， 在透射光和反射光下观察。 应将零件表面预擦干净。
▶ 透射光观察：在规定的条件下，将被测零件置于光源和眼睛之间，用透过零的光线来对表面疵病进行观察的一种方法，常用于检查各种透镜、玻璃平板和楔形角较小的楔形镜以及便于使用透镜光线进行观察的零件（不包括棱镜和一面磨砂一面尚未镀反射膜的表面）为了便于发现疵病，观察时允许朝任意方向转动（侧转）零件，但在确定疵病大小时应以透射光为准，在反射光下观察不出的疵病不予考核。
▶ 反射光观察：在规定的检验条件下，是光源眼睛和被测零件构成一定的角度，利用零件表面上反射光线所形成的明暗差异进行观察的，此方法多用于检棱镜和楔角较大的楔 镜 形角较大的楔形镜，一面抛 的 件 色滤 玻璃 使 射 光的零件和深色滤光玻璃以及便于使用反射光线进行观察的零件表面。在反射光下检验时，对棱镜、楔形角度较大的楔形镜等多采用内反射光线进行观察。对一面抛光零件和深色滤光玻璃等，可用红笔在零件任意表面疵病附近作出标记 然后轻微摆动零件 同时注意观察疵病和符号的移动情况来进行分辨。

光圈
▶ 整体光圈N： 被检光学表面与参考光学表面允许的最大半径偏差。（+为高光圈——中间接触，压紧时，光圈往外冒、 -为低光圈——边缘接触，压紧时光圈往里收）如有必要在N后面标注检验范围直径即N=x(xx)。
▶ 局部光圈△ N： 允许的最大像散偏差和局部偏差。 像散偏差指两个互相垂直方向上光圈数的差值。局部偏差指平滑干涉条纹的不规则程度。
▶光圈与半径误差的关系式 N=D^2*△C/4λ 。

波阵面偏差 PV值和RMS：

两种评价方法之间的关系：
▶ 光圈N、局部光圈ΔN ⇔PV、 RMS
▶ 当试件面形近似为标准球面时， N=2×pv，否则，没有严格对应关系。
▶ 用波面的power系数表示N。
▶ ΔN=RMS

通光：
▶ 应注意零件与镜框固定，外径应留有固定的余量。（以下为设计书中的建议值）
▶ 镀膜元件应至少留有单边0.5mm的余量。
▶ 如需全口径镀膜无余量， 必须提前明示。 它会造成加工的复杂度。
▶ 凹透镜带平台定位的元件可以保证凹面全通光。